Техника - молодёжи 2011-02, страница 34
Наноскопия скорее Каи п Фотодетектор Рис. 2. Реализация атомарного разрешения сканирующем туннельном микроскопе. Поскольку какой-то из атомов кон ка иглы обязательно оказывается ближе других к поверхности образца, общая картина взаимодействия определяете» в оснно туннельным током между эти «концевым» атомом и ближайшим к нему атомом образца Привод перемещения иглы Зона «туннельного контакта» Направление сканирований Рис. 3. Кантилевер атомно-силового микроскопа при увеличении в 1000 (слева) и в 3000 раз (в центре). Длина иглы всего порядка 15 мкм. .. Справа - острие иглы при увеличении 50 ООО раз; этот кантилевер успел хорошо поработать... Рис. 4. Принцип работы всех видов микроскопов с кантилевером о> над поверхностью образца кон ш кантилевера изгибается под де отталкивающих от него). Этот изгиб и является ис - чником информаци, /я определённую зону ki ■ со и наводится лазер, и перемещение Если перепад вь п рельефа образца невелик, то управляемым дв> сканирования. Если же перепады велики, то зонд надо двигать на прервалось силовое взаимодействие иглы с образцом. Тогда вводитi сигнал от фотодетектора, а выход юдключ, Схема обратной связи |
